納米粒度儀檢測是采用的動態(tài)光散射的原理，簡單來說是通過測量納米顆粒的布朗運(yùn)動導(dǎo)致的顆粒散射光的波動來實(shí)現(xiàn)粒徑的檢測?；驹硎牵盒☆w粒的布朗運(yùn)動速度快使得散射光波動快；大顆粒的布朗運(yùn)動速度慢導(dǎo)致散射光波動慢。  

光電探測器接收到散射光的波動信號，然后將信號輸送到儀器內(nèi)的相關(guān)器進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，然后得到各項(xiàng)測試結(jié)果。  

納米粒度儀的兩大核心技術(shù)是：1、準(zhǔn)確檢測并記錄極其微弱且快速變化的動態(tài)散射光信號。  

2、根據(jù)動態(tài)散射光信號，經(jīng)過復(fù)雜的數(shù)學(xué)模型分析計算后準(zhǔn)確的解析出相關(guān)的粒度數(shù)據(jù)。  

目前納米粒度儀主流使用的探測器有兩種：一是PMT光電倍增管，二是雪崩光電探測器APD。PMT光電倍增管它是一種真空光電器件（真空管）。它的工作原理是建立在光電效應(yīng)（光電發(fā)射）、二次電子發(fā)射、電子光學(xué)理論基礎(chǔ)上的。PMT光電倍增管已經(jīng)面世多年，其生產(chǎn)工藝及應(yīng)用技術(shù)已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，但是已經(jīng)很難再有更上一層樓的技術(shù)進(jìn)步。它主要的優(yōu)點(diǎn)就是技術(shù)成熟，不足之處在于靈敏度稍低和背景電噪聲不穩(wěn)定。  

雪崩光電探測器APD是利用載流子的雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號以提高檢測的靈敏度。雪崩光電二極管(APD)具備單光子探測能力，與已經(jīng)廣泛使用的光電倍增管(PMT)相比，APD具有全固態(tài)結(jié)構(gòu)，量子效率高的特點(diǎn)，并可以在高增益下保持良好的信噪比。由于APD是工作在蓋革模式下，單個門控周期得到的是0和1組成的數(shù)字矩陣，對微弱光子信號的長時間積分不會引入熱噪聲，加之其信號的傳輸不需要經(jīng)過模數(shù)和數(shù)模轉(zhuǎn)換減少了隨機(jī)噪聲等誤差源。  

當(dāng)納米粒度儀與電鏡結(jié)果做比較時，有必要認(rèn)識到兩種儀器的等效原理不同，數(shù)據(jù)不具備*的可比性。一般而言NumberPSD的值與電鏡結(jié)果的可比性比較強(qiáng)，但我們也需要注意到NumberPSD分布本身就可能有較大的誤差。尤其對于分布比較寬的樣品，用動態(tài)光散射測量時IntensityPSD本身就有變化，這會造成VolumePSD，NumberPSD的重復(fù)性很差。  

納米粒度儀用動態(tài)光散射的原理測量納米材料的粒徑，具有準(zhǔn)確、簡便、快速等優(yōu)點(diǎn)，同時提供了豐富的結(jié)果信息。充分了解這些結(jié)果的含義對于正確使用有重要的意義。一般而言，對于單峰的樣品，通常用Z-average來報道樣品結(jié)果；而多峰分布的樣品，則要注意根據(jù)“質(zhì)量報告”提示，有時提供IntensityPSD中的峰值大小更有意義。VolumePSD，NumberPSD的準(zhǔn)確性依賴于用戶輸入的光學(xué)參數(shù)，在多數(shù)情況下僅供參考。另外，為保障數(shù)據(jù)可靠性，我們通常還要求對一個樣品進(jìn)行多次取樣、多次測試，以確保結(jié)果的可靠性。