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1、X熒光光譜儀核查周期X熒光光譜光譜儀經(jīng)機(jī)構(gòu)檢測(cè)合格后每3個(gè)月進(jìn)行一次期間核查。2、X熒光光譜儀期間核查的類型采用定值物質(zhì)進(jìn)行核查。3、X熒光光譜儀核查內(nèi)容①PE基質(zhì)工作曲線用已有的PE基質(zhì)工作曲線測(cè)定PE基質(zhì)的定值物質(zhì)6次，其定值為：Cr：600ppm、Cd：310ppm、Hg：600ppm、Pb：620ppm、Br：590ppm，計(jì)算出其平均值和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。要求各個(gè)元素的平均值落在定值的95-105%之間，相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差必須小于10%。②PVC基質(zhì)工作曲線用已有的PVC...

一、進(jìn)口X射線衍射儀制樣中應(yīng)注意的問題1、樣品粉末的粗細(xì)：樣品的粗細(xì)對(duì)衍射峰的強(qiáng)度有很大的影響。要使樣品晶粒的平均粒徑在5μm左右，以保證有足夠的晶粒參與衍射。并避免晶粒粗大、晶體的結(jié)晶完整，亞結(jié)構(gòu)大，或鑲嵌塊相互平行，使其反射能力降低，造成衰減作用，從而影響衍射強(qiáng)度。2、樣品的擇優(yōu)取向：具有片狀或柱狀*解理的樣品物質(zhì)，其粉末一般都呈細(xì)片狀或細(xì)律狀，在制作樣品過程中易于形成擇優(yōu)取向，形成定向排列，從而引起各衍射峰之間的相對(duì)強(qiáng)度發(fā)生明顯變化，有的甚至是成倍地變化。對(duì)于此類物質(zhì)，...

由于產(chǎn)生誤差的原因不同,能量色散型X熒光光譜儀各種誤差具有不同的性質(zhì),顯示出不同的基本特征。通常將誤差分為系統(tǒng)誤差、隨機(jī)誤差與過失誤差三類。(1)系統(tǒng)誤差由于在能量色散型X熒光光譜儀測(cè)定過程中某些固定的原因,造成測(cè)定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,出現(xiàn)比較恒定的正誤差或負(fù)誤差,這種誤差稱為系統(tǒng)誤差,或者稱為固定誤差、可測(cè)誤差,它是測(cè)定結(jié)果中的主要誤差來源。系統(tǒng)誤差的特點(diǎn)是,這種誤差在測(cè)定過程中按一定規(guī)律重復(fù)出現(xiàn),并具有一定的方向性,表現(xiàn)為測(cè)定結(jié)果經(jīng)常性偏高或偏低,增加測(cè)定次數(shù)并不能減少...

一、檢測(cè)元素范圍一般來說,波譜儀可探測(cè)的zui輕元素為鈹,能譜儀可檢測(cè)到硼元素,而實(shí)際上,波譜儀一般也只測(cè)到硼。對(duì)于原子序數(shù)小于10的超輕元素,過去多采用硬脂酸鉛晶體分光,對(duì)氮、氫等元素的探測(cè)效率較低,現(xiàn)在使用人工沉積的多層膜晶體,使探測(cè)效率提高很多。圖1顯示了用硬脂酸鉛晶體(STE)與W2C多層膜晶體(LDEB)對(duì)硼元素的測(cè)試結(jié)果。二者的實(shí)驗(yàn)條件相同,圖的縱坐標(biāo)為X2射線強(qiáng)度。可以看到,用多層膜測(cè)得的強(qiáng)度比硬脂酸鉛提高了五倍多,峰背比改善更大,對(duì)其它超輕元素的測(cè)量都有類似的...

用EDXRF能量色散X射線熒光光譜儀測(cè)試樣品中的鎘鉛汞溴鉻時(shí),哪些元素之間存在干擾?該如何去除？1、應(yīng)明確理解，熒光分析存在干擾的元素有很多，每一種需要測(cè)試的元素都會(huì)受到其它某些元素的影響。如鉛分析過程中常出現(xiàn)砷干擾，汞分析過程中常出現(xiàn)鍺和錸干擾。2、常見干擾[經(jīng)驗(yàn)]Cd:Br/Pb/Sn/SbPb:Br/AsHg:Br/Pb/Fe/CaCr:ClBr:/Fe/Pb3、同時(shí)使用兩條以上的特征線進(jìn)行測(cè)分析。例如Pb，需要選取PbLa和PbLb這兩條譜線進(jìn)行測(cè)試和判斷。一般情況下...