當(dāng)前位置:首頁(yè) > 技術(shù)文章
在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過(guò)光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...
1、步進(jìn)掃描試樣每轉(zhuǎn)動(dòng)一步(固定的Δθ)就停下來(lái),測(cè)量記錄系統(tǒng)開(kāi)始測(cè)量該位置上的衍射強(qiáng)度。強(qiáng)度的測(cè)量也有兩種方式:定時(shí)計(jì)數(shù)方式和定數(shù)計(jì)時(shí)方式。然后試樣再轉(zhuǎn)過(guò)一步,再進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)量。如此一步步進(jìn)行下去,完成角度范圍內(nèi)衍射圖的掃描。用記錄儀記錄衍射圖時(shí),采用步進(jìn)掃描方式的優(yōu)點(diǎn)是不受計(jì)數(shù)率表RC的影響,沒(méi)有滯后及RC的平滑效應(yīng),分辨率不受RC影響;尤其它在衍射線強(qiáng)度極弱或背底很高時(shí)特別有用,在兩者共存時(shí)更是如此。因?yàn)椴捎貌竭M(jìn)掃描時(shí),可以在每個(gè)θ角處作較長(zhǎng)時(shí)間的計(jì)數(shù)測(cè)量,以得到較大的每...
中子活化水泥元素在線分析儀由測(cè)量裝置、中子源、探測(cè)器、信號(hào)處理柜以及主機(jī)五個(gè)部分構(gòu)成。1、測(cè)量裝置測(cè)量裝置采用模塊式框架結(jié)構(gòu)。包含支持測(cè)量過(guò)程中核相互作用的關(guān)鍵部件,同時(shí)對(duì)射線進(jìn)行輻射防護(hù),使裝置周圍劑量率達(dá)到輻射安全國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),保證工作人員的健康安全。2、中子源中子源安裝于測(cè)量裝置的下部,位于物料皮帶的正下方,內(nèi)部裝有一個(gè)或多個(gè)不銹鋼封裝的252Cf源芯。252Cf的半衰期為2.6年,放射性活度隨著持續(xù)發(fā)射中子減小,約二年半時(shí)間,需補(bǔ)充新的中子源芯達(dá)到初始源強(qiáng)度。3、探測(cè)器探...
X射線具有一定的材料穿透性,不同波長(zhǎng)的X射線在相同的材料中具有不同的輻射深度;相同波長(zhǎng)的X射線在不同材料中也具有不同的輻射深度。在通常的衍射分析條件下,其輻射深度大約在幾微米至幾十微米以內(nèi)。在不存在系統(tǒng)消光的前提下,多晶樣品的輻射范圍內(nèi)凡是滿足衍射矢量方程的晶粒都會(huì)產(chǎn)生衍射。在X射線粉末衍射儀連動(dòng)掃描的過(guò)程中,不管衍射聚焦圓如何變化,只要樣品放置得當(dāng),在樣品的輻射深度內(nèi)總有與聚焦圓吻合的弧面存在。由于多晶樣品中的小晶粒數(shù)量眾多且取向隨機(jī),因此在與聚焦圓吻合的弧面上總會(huì)存在許多...
X射線衍射儀廠家表示在晶體衍射實(shí)驗(yàn)中,常用的X射線管按其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的特點(diǎn)可分為以下三種類型:1、可拆式管這種X射線管在動(dòng)真空下工作,配有真空系統(tǒng),使用時(shí)需抽真空使管內(nèi)真空度達(dá)到10-5毫帕或更佳的真空度。不同元素的靶可以隨時(shí)更換,燈絲損壞后也可以更換。2、密封式管這是zui常使用的X射線管,它的靶和燈絲密封在高真空的殼體內(nèi)。殼體上有對(duì)X射線“透明”的X射線出射“窗口”——鈹窗口,如圖5-2所示。這種管子使用方便,但靶和燈絲不能更換。若燈絲燒斷后管子也就報(bào)廢了,其壽命一般為100...
一、單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀原理:用全聚焦型雙曲面彎晶將微焦斑X線管(可看作點(diǎn)光源)發(fā)射的原級(jí)X射線的某個(gè)波長(zhǎng)(通常選取出射譜中的特征X射線)的X射線單色化并聚焦于樣品測(cè)試表面,激發(fā)樣品中元素的熒光X射線。由于入射到樣品的X射線具有很好的單色性,幾乎不存在連續(xù)譜,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,幾乎不存在連續(xù)散射背景。因此待測(cè)元素特征線具有極低的背景。樣品上出射的X射線(可視作點(diǎn)光源)中待測(cè)元素的...