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粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理的儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和相關(guān)領(lǐng)域。它可以通過分析樣品的衍射圖案,獲得材料的晶體結(jié)構(gòu)信息、晶格參數(shù)、相變行為等重要數(shù)據(jù)。基于X射線衍射原理進(jìn)行工作。當(dāng)X射線照射到晶體樣品上時,晶體中的原子會對X射線進(jìn)行散射,形成衍射圖案。通過分析衍射圖案,可以得到晶體的結(jié)構(gòu)信息。粉末衍射儀通常采用旋轉(zhuǎn)樣品法,即通過旋轉(zhuǎn)樣品收集不同角度下的衍射數(shù)據(jù),然后利用計算方法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。粉末衍射儀功能的一些詳細(xì)介紹:1、材料組成分析:可以通過分析樣品的衍射圖案...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r監(jiān)測納米顆粒動態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運動,并通過圖像處理技術(shù)對顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后,可通過分析軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,如計算平均直徑...
X射線熒光光譜儀是一種重要的分析儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。其原理基于物質(zhì)在受激輻射下產(chǎn)生特定能量的熒光現(xiàn)象。當(dāng)樣品暴露于高能X射線束時,內(nèi)部原子被激發(fā)并躍遷到較高能級。隨后,這些原子會釋放出X射線能量,并以特定的頻率進(jìn)行熒光發(fā)射。光譜儀通過收集和分析這些發(fā)射的X射線能量,可以確定樣品中元素的成分和濃度。X射線熒光光譜儀具有許多優(yōu)勢。首先,它是非破壞性的分析方法,樣品在測試過程中不需要毀壞或改變其形態(tài)。這使得可以對寶貴的或難以獲取的樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。其...
X射線熒光光譜儀是一種常用的分析儀器,利用X射線的特性,通過測量樣品中發(fā)射的熒光X射線能譜,分析樣品的元素成分和結(jié)構(gòu)信息?;赬射線的特性進(jìn)行分析。當(dāng)X射線照射樣品時,樣品中的原子會吸收X射線的能量,激發(fā)內(nèi)層電子躍遷至高能級,形成空位。隨后,樣品中的其他電子會填補這些空位,釋放出熒光X射線。X射線熒光光譜儀通過測量這些熒光X射線的能譜,可以確定樣品中的元素成分和結(jié)構(gòu)信息。以下是對X射線熒光光譜儀的優(yōu)點進(jìn)行分析:1、非破壞性分析:是一種非破壞性分析方法,不需要對樣品進(jìn)行物理或化...
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